Kuerzwelleninfrarout (SWIR) ass eng speziell entwéckelt optesch Lëns, déi entwéckelt gouf fir kuerzwelleninfraroutliicht opzehuelen, dat net direkt vum mënschlechen A wahrzeichnet ka ginn. Dëse Band gëtt üblech als Liicht mat Wellelängten tëscht 0,9 an 1,7 Mikrometer bezeechent. De Funktionsprinzip vun der Kuerzwelleninfraroutlëns hänkt vun den Transmissiounseigenschaften vum Material fir eng spezifesch Liichtwellelängt of, a mat der Hëllef vu spezialiséierte optesche Materialien an der Beschichtungstechnologie kann d'Lëns kuerzwelleninfraroutliicht effizient leeden, während gläichzäiteg siichtbaart Liicht an aner ongewollt Wellelängten ënnerdréckt ginn.
Seng Haaptcharakteristike sinn:
1. Héich Transmittanz a spektral Selektivitéit:SWIR-Lënsen benotzen spezialiséiert optesch Materialien a Beschichtungstechnologie fir eng héich Transmittanz am Kuerzwellen-Infraroutband (0,9 bis 1,7 Mikrometer) z'erreechen a besëtzen eng spektral Selektivitéit, wat d'Identifikatioun an d'Leedung vu spezifesche Wellelängte vum Infraroutliicht an d'Inhibitioun vun anere Wellelängte vum Liicht erliichtert.
2. Chemesch Korrosiounsbeständegkeet a thermesch Stabilitéit:D'Material an d'Beschichtung vun der Lëns weisen eng aussergewéinlech chemesch a thermesch Stabilitéit a kënnen eng optesch Leeschtung ënner extremen Temperaturschwankungen a verschiddenen Ëmweltbedingungen erhalen.
3. Héich Opléisung a geréng Verzerrung:SWIR-Lënsen weisen optesch Eegeschafte vun héijer Opléisung, gerénger Verzerrung a schneller Reaktioun a erfëllen doduerch d'Ufuerderunge vun der High-Definition-Bildgebung.
Kuerzwellen-Infraroutlënse gi wäit verbreet am Beräich vun der industrieller Inspektioun benotzt. Zum Beispill kënnen SWIR-Lënsen am Hallefleederherstellungsprozess Mängel a Siliziumwaferen detektéieren, déi ënner siichtbarem Liicht schwéier z'entdecken sinn. D'Kuerzwellen-Infrarout-Bildgebungstechnologie kann d'Genauegkeet an d'Effizienz vun der Waferinspektioun erhéijen, doduerch d'Produktiounskäschte reduzéieren an d'Produktqualitéit verbesseren.
Kuerzwellen-Infraroutlënsen spille eng wichteg Roll bei der Inspektioun vu Hallefleederwaferen. Well Kuerzwellen-Infraroutliicht Silizium duerchdrénge kann, erméiglecht dëst Attribut Kuerzwellen-Infraroutlënsen, Defekter an Siliziumwaferen z'entdecken. Zum Beispill kéint de Wafer Rëss hunn, deen duerch Reschtspannung während dem Produktiounsprozess verursaacht gëtt, an dës Rëss, wa se net entdeckt ginn, beaflossen direkt den Ausbezuelungs- an d'Produktiounskäschte vum fäerdege IC-Chip. Duerch d'Benotzung vu Kuerzwellen-Infraroutlënsen kënnen esou Defekter effektiv erkannt ginn, wouduerch d'Produktiounseffizienz an d'Produktqualitéit gefördert ginn.
An der Praxis kënne Kuerzwellen-Infraroutlënsen héichkontrasträich Biller liwweren, wouduerch souguer kleng Defekter däitlech siichtbar sinn. D'Uwendung vun dëser Detektiounstechnologie verbessert net nëmmen d'Genauegkeet vun der Detektioun, mä reduzéiert och d'Käschten an d'Zäit vun der manueller Detektioun. Laut dem Maartfuerschungsbericht klëmmt d'Nofro fir Kuerzwellen-Infraroutlënsen um Maart fir Hallefleederdetektioun vu Joer zu Joer a gëtt erwaart, datt se an de kommende Joren e stabile Wuestumswee behält.
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 18. November 2024