Kuerzwellen Infrarout (SWIR) ass eng speziell konstruéiert optesch Lens entwéckelt fir Kuerzwellen Infrarout Liicht opzehuelen dat net direkt vum mënschlechen Auge erkennbar ass. Dës Band gëtt üblech als Liicht bezeechent mat Wellelängte vun 0,9 bis 1,7 Mikron. D'Operatiounsprinzip vun der Kuerzwellen Infrarout Lens hänkt op d'Iwwerdroungseigenschaften vum Material fir eng spezifesch Wellelängt vum Liicht, a mat der Hëllef vu spezialiséierten opteschen Materialien a Beschichtungstechnologie kann d'Objektiv qualifizéiert Kuerzwellen Infrarout Liicht féieren, wärend siichtbar ënnerdréckt Liicht an aner ongewollt Wellelängten.
Seng Haaptcharakteristike enthalen:
1. Héich Iwwerdroung a Spektral Selektivitéit:SWIR Lënsen beschäftegen spezialiséiert optesch Materialien a Beschichtungstechnologie fir eng héich Iwwerdroung bannent der Kuerzwellen Infrarout Band (0,9 bis 1,7 Mikron) z'erreechen an d'Spektral Selektivitéit ze besëtzen, d'Identifikatioun an d'Leedung vu spezifesche Wellelängten vum Infrarout Liicht an d'Inhibitioun vun anere Wellelängten vum Liicht erliichtert. .
2. Chemesch Korrosiounsbeständegkeet an thermesch Stabilitéit:D'Material an d'Beschichtung vun der Lens demonstréieren aussergewéinlech chemesch an thermesch Stabilitéit a kënnen optesch Leeschtung ënner extremen Temperaturschwankungen a verschiddenen Ëmstänn erhalen.
3. Héich Opléisung an niddreg Verzerrung:SWIR Lënsen manifestéieren héich Opléisung, niddereg Verzerrung, a séier Äntwert optesch Attributer, erfëllen d'Ufuerderunge vun der High-Definition Imaging.
Kuerzwellen Infraroutlënse ginn extensiv am Beräich vun der industrieller Inspektioun benotzt. Zum Beispill, am Hallefleitproduktiounsprozess, kënnen SWIR Lënsen Mängel bannent Siliziumwaferen entdecken, déi schwéier ënner sichtbarem Liicht z'entdecken. Shortwave Infrarout Imaging Technologie kann d'Genauegkeet an Effizienz vun der Wafer Inspektioun erhéijen, doduerch d'Produktiounskäschte reduzéieren an d'Produktqualitéit verbesseren.
Kuerzwellen Infraroutlënse spillen eng vital Roll bei der Halbleiterwafer Inspektioun. Zënter Kuerzwellen Infraroutlicht kann Silizium permeatéieren, erméiglecht dësen Attribut Kuerzwellen Infraroutlënse fir Mängel bannent Siliziumwaferen z'entdecken. Zum Beispill kann de Wafer Spalten hunn wéinst Reschtstress wärend dem Produktiounsprozess, an dës Spaltungen, wann net festgestallt ginn, beaflossen direkt d'Ausbezuelung an d'Fabrikatiounskäschte vum finalen fäerdegen IC Chip. Andeems Dir Kuerzwellen Infraroutlënse benotzt, kënnen esou Mängel effektiv erkannt ginn, an doduerch d'Produktiounseffizienz a Produktqualitéit förderen.
A prakteschen Uwendungen kënne Kuerzwellen-Infraroutlënse mat héije Kontrast Biller ubidden, sou datt souguer kleng Mängel opfälleg sichtbar sinn. D'Applikatioun vun dëser Detektiounstechnologie verbessert net nëmmen d'Genauegkeet vun der Detektioun, awer reduzéiert och d'Käschte an d'Zäit vun der manueller Detektioun. Geméiss dem Maartfuerschungsbericht ass d'Demande fir Kuerzwellen Infraroutlënsen am Hallefleiter Detektiounsmaart eropgaang vu Joer zu Joer a gëtt erwaart e stabile Wuesstumstrooss an de kommende Joren ze halen.
Post Zäit: Nov-18-2024